Báo cáo Thực Tập Vật lý lý sinh: Phóng Xạ Hấp Thu và Nguyên Lý Máy Đếm | Đại học Y Dược Thành phố Hồ Chí Minh

lOMoAR cPSD| 45470709
BÁO CÁO THỰC TẬP
BÀI 1: PHÓNG XẠ HẤP THU I.
TRẢ LỜI CÂU HỎI
Câu 1. Phân loại tia phóng xạ. Các loại tia phóng xạ:
+ Tia α là các hạt nhân Heli bền
+ Tia β- là các hạt electron, tia β+ là các hạt positron
+ Tia γ là các bức xạ điện tử có bước sóng rất ngắn
Câu 2. Giải thích nguyên lý hoạt động của máy đếm Geiger – Muller
Nguyên lý hoạt động: Khi các hạt phóng xạ bay vào không gian giữa hai điện cực
của ống đếm, chúng sẽ ion hóa chất khí làm xuất hiện các electron và các ion. Dưới
tác động của điện trường giữa hai cực các electron và các ion chuyển động về các
điện cực, tạo ra dòng xung điện ngắn
Câu 3. Định nghĩa tốc độ đếm và phông của máy đếm. Nêu rõ công thức tính
và đơn vị đo của tốc độ đếm. Định nghĩa:
+ Số xung điện mà máy đếm ghi được trong mỗi phút gọi là tốc độ đếm n.
Nếu N là số xung điện ghi được trong thời gian t phút, thì ta có: N
n= t (cps, counts per second)
+ Phông của máy đếm là tốc độ đếm trung bình của nó khi không có nguồn phóng xạ
Câu 4. Nêu rõ quy luật thay đổi tốc độ đếm phụ thuộc vào khoảng cách từ
nguồn phóng xạ tới ống đếm Geiger – Muller lOMoAR cPSD| 45470709
+ Nếu nguồn có cường độ phóng xạ càng mạnh, thì số hạt phóng xạ truyền tới đập
vuông góc vào một đơn vị diện tích bao quanh điểm ta xét càng nhiều và suy ra, tốc
độ đếm tại đó càng lớn
+ Tốc độ đếm n tỷ lệ nghịch với bình phương của khoảng cách r tính từ nguồn phóng xạ tới ống đếm: k n= 2 r
( k là hệ số tỷ lệ, phụ thuộc vào nguồn phóng xạ và môi trường bao quanh nguồn đó)
Câu 5. Nêu rõ quy luật thay đổi tốc độ đếm phụ thuộc vào độ dày của tấm kim
loại đặt chắn giữa nguồn phóng xạ và ống đếm Geiger – Muller
Tốc độ đếm n giảm nhanh theo quy luật hàm mũ khi tăng độ dày x của tấm vật chất ấy:
n=n0. e−μx Trong đó:
+ n0 là tốc độ đếm khi không có tấm kim loại chắn giữa nguồn phóng xạ và ống đếm
+ elà cơ số của lôga
+μlà hệ số hấp thụ của các tia phóng xạ của kim loại
Nếu làm thí nghiệm với hai tấm kim loại có cùng bản chất nhưng độ dày khác nhau
x1 và x2, thì hệ số hấp thụ các tia phóng xạ của hai tấm kim loại này tính bằng
μ= lnn1−lnn2 x2−x1 II. BẢNG SỐ LIỆU
1. Đo phông của máy đếm Geiger- Muller Lần đo N0 1 44 2 33 lOMoAR cPSD| 45470709 3 34 4 33 5 28 Trung bình 34,4
Kết quả phép đo phông máy đếm: n0 trung bình = 34,4 ± 3,84
2. Khảo sát tốc độ đếm n phụ thuộc khoảng cách r từ nguồn phóng xạ tới ống đếm
*Ngăn thứ 1 cách ống đếm 2cm, khoảng cách mỗi ngăn là 1cm Tốc độ đếm n Ngăn Đo lần 1 Đo lần 2 Đo lần 3 Trung bình 1 13042 12621 12854 12839-34,4 =12804,6 2 3 4695 4490 4679 4621,3-34,4 =4586,9 4 5 2307 2295 2282 2294,7-34,4 =2260,3 6 7 1341 1356 1309 1335,3-34,4 =1300,9 8 9 955 961 963 959,7-34,4 =925,3 10
3. Khảo sát sự hấp thụ hạt beta
Đơn vị đo độ dày trên hộp đựng vật chất hấp thụ phóng xạ là inch lOMoAR cPSD| 45470709 1 inch = 2.54 cm
Khoảng thời gian đo các xung điện: t = 60s
Vật liệu hấp thụ: Tấm plastic Lần đo 1 tấm: x1= 0,762 mm 2 tấm: x2= 1,016mm n1 Δ n1 n2 Δ n2 1 4977 ±29,57 4467 ±30 2 4919 4508 3 4902 4420 Trung bình 4932,7-34,4 4465-34,4 =4898,3 =4430,6